1. Scanning probe microscopy for industrial applications :
المؤلف: edited by Dalia G. Yablon.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Materials-- Microscopy.,Scanning probe microscopy-- Industrial applications.
2. Scanning probe microscopy for industrial applications :
المؤلف: edited by Dalia G. Yablon.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Materials-- Microscopy.,Scanning probe microscopy-- Industrial applications.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Nanotechnology & MEMS.
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
3. Scanning probe microscopy for industrial applications
المؤلف: / edited by Dalia G. Yablon
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Materials--Microscopy,Scanning probe microscopy--Industrial applications
رده :
TA417
.
23
.
S33
2014
